Gomory F., Usoskin A., Abrahamsen A.B., Grivel J., Solovyov M., Hansen J.B., Wulff A.C., Mishin O.V., RuttA., Lundeman J.H., Thyden K.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni-W, texture, buffer layers, surface, roughness, mechanical treatment, fabrication, quality control
Ключевые слова: coated conductors, fabrication, substrate Ni-W, annealing process, buffer layers, grain boundaries, grain structure, milling process
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.